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1. 試驗標(biāo)準(zhǔn)
跌落測試遵循嚴(yán)格的國際和國家標(biāo)準(zhǔn),以確保測試結(jié)果的一致性和可靠性:
GB/T 2423.8:這是中國國家標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗的跌落測試方法。
IEC60068-2-32:這是國際電工委員會的標(biāo)準(zhǔn),同樣規(guī)定了電工電子產(chǎn)品的跌落測試方法。
GB/T4857.:這是中國關(guān)于包裝運輸包裝件跌落試驗方法的標(biāo)準(zhǔn)。
2. 試驗條件
進行跌落測試時,需要考慮以下條件:
試驗表面:產(chǎn)品跌落后接觸的表面,通常為堅硬的表面,如混凝土或鋼板。
釋放高度:產(chǎn)品從多高的地方釋放,這個高度通常根據(jù)產(chǎn)品的實際使用情況來確定。
釋放方法:產(chǎn)品是以自由落體的方式跌落,還是通過其他方式釋放。
3. 試驗類型
跌落測試可以分為兩種主要類型:
嚴(yán)酷等級通常由跌落高度決定,它反映了測試的嚴(yán)格程度。在沒有特定使用條件或規(guī)范的情況下,跌落高度的選擇應(yīng)考慮試驗樣品的質(zhì)量。
5. 跌落表面
跌落表面的選擇對測試結(jié)果有重要影響。常見的跌落表面包括:
6. 最后檢測
測試完成后,需要對樣品進行以下檢查:
外觀檢查:檢查樣品外觀是否有深度刮痕、變形、破裂或螺絲釘松動。
內(nèi)部檢查:檢查樣品內(nèi)部的器件、模塊、接插件、開關(guān)、PCB等是否有脫離、破裂、震斷現(xiàn)象。
功能檢查:確保樣品能正常上電,所有功能正常。
失效原因與降低損壞率的方法
跌落測試中常見的失效原因包括外包裝炸裂、漆膜破損、金屬變形、塑料破裂、元器件脫焊等。降低這些損傷的方法是減少能量傳遞,選擇合適的緩沖材料。
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